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1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具的測量面、工作面的平面度。亦用于檢定高精度的平面零件，例如：平面光學零件，高級平臺，平板，導軌，機械密封件等。平面平晶特別適用于計量單位，檢測實驗室作為標準平面基準。

2、符合標準：JJG28-2019計量檢定規(guī)程；

3、產品視頻展示地址如下：

http://www.abxcl.com/videoshow-437.html

二、主要技術規(guī)格：

1、標準規(guī)格尺寸：                                                                           單位：mm

備注：直徑大于200mm可定制；
3、精度：按JJG_28-2019標準；

1） 平晶精度：1級

a.直徑 30mm~60mm     0.03μm

b.直徑 80mm~150mm   0.05μm

c.直徑 200mm~250mm 0.08~0.1μm

d.直徑 300mm~600mm 0.08~0.5μm 

2）平晶的材料：特等優(yōu)質 光學K9，或石英材質（選購）

3） 平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內進行等溫，等溫時間不少于8小時；

4、備注：簡易操作說明

1、采用220V/50或60HZ專用鈉光燈源照射。

2、選用一級平面平晶(備注：直徑≤200mm以內平晶為標準規(guī)格，直徑＞200mm以上平晶為非標規(guī)格)。

1）將工件需檢測的平面放置在平面平晶表面上（中心位置）

2）調整玻璃鏡的角度，工件平面會通過平面平晶鈉光燈源照射反映在玻璃鏡上，將玻璃鏡上所顯示的光帶紋

路對照光譜圖示參照圖，找出相似或接近的圖示，即可檢測出該工件的平面度，如顯示的紋路圖案不清楚，可

以輕輕轉動工件查看玻璃鏡上的紋路，找出一個清晰的圖案再去對照。

標配：平晶1塊，合格證1張，鋁合金包裝盒1個；

選購：YZPD-G系列平面光帶檢測儀(單色光源箱)，計量檢定證書；