CH-1-ST臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀主要特點(diǎn)：
1、采用高精密機(jī)械千表，測(cè)量精度高，穩(wěn)定性和重復(fù)性好；
2、內(nèi)部采用齒輪裝配傳動(dòng)，可測(cè)量0-1000微米范圍薄膜厚度；
3、上測(cè)頭采用曲面測(cè)量頭，符合國標(biāo)GB/T6672-2001要求，測(cè)力小，符合0.1-0.5N范圍；
4、測(cè)頭經(jīng)精密研磨，不容易生銹，機(jī)架穩(wěn)定不容易變形，時(shí)效性好
5、測(cè)厚儀輕便小巧，可隨身攜帶，適用于實(shí)驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)；